手機(jī)、電腦、觸摸屏等電子產(chǎn)品電路的連通性和導(dǎo)電粒子有關(guān)，導(dǎo)電粒子檢查金相顯微鏡也隨之而生，下面請(qǐng)大家一起了解導(dǎo)電粒子檢查金相顯微鏡。

導(dǎo)電粒子檢查金相顯微鏡屬于高倍顯微鏡，通過(guò)微分干涉觀察方法即可觀察導(dǎo)電粒子，具體應(yīng)該如何判斷呢？下面簡(jiǎn)單和大家介紹導(dǎo)電粒子。

●導(dǎo)電粒子位于基板和芯片之間，通過(guò)。

●導(dǎo)電粒子數(shù)量多少，電路穩(wěn)定性差。

●導(dǎo)電粒子分布不均勻，將會(huì)出現(xiàn)部分區(qū)域斷路，電路不通。

●導(dǎo)電粒子熱壓過(guò)小，將與兩邊接觸面積少，導(dǎo)電性差，反之，熱壓過(guò)大，導(dǎo)電粒子破裂，將失去導(dǎo)電性。

由此通過(guò)導(dǎo)電粒子檢查金相顯微鏡分析的時(shí)候，我們就可以根據(jù)以上幾點(diǎn)來(lái)觀察，給大家展示幾張匯光科技導(dǎo)電粒子檢查金相顯微鏡拍照?qǐng)D。

導(dǎo)電粒子分布，數(shù)量，是否破裂都非常清楚吧。您如果也需要導(dǎo)電粒子檢查，可以先寄樣品來(lái)測(cè)試，當(dāng)然也歡迎大家來(lái)匯光科技現(xiàn)場(chǎng)試樣，期待您的光臨。